縱波探頭通常稱為直探頭，主要用于檢測(cè)與檢測(cè)面平行的缺陷，如板材、鑄、鍛件檢測(cè)等。橫波斜探頭是利用橫波檢測(cè)是入射角，在一臨界角與二臨界角之間且折射波為純橫波的超聲波傳感器探頭，主要用于檢測(cè)與檢測(cè)面垂直或成一定角度的缺陷，廣泛用于焊縫、管材、鍛件的檢測(cè)。

縱波斜探頭是入射角小于一臨界角的探頭。目的是利用小角度的縱波進(jìn)行缺陷檢驗(yàn)，或在橫波衰減過大的情況下，利用縱波穿透能力強(qiáng)的特點(diǎn)進(jìn)行縱波斜入射檢驗(yàn)，使用時(shí)需注意試件中同時(shí)存在橫波的干擾。爬波探頭，由于一次爬波的角度在75o～83o之間，幾乎垂直于被檢工件的厚度方向，與工件中垂直方向的裂紋接近成90o。

因此對(duì)于垂直性裂紋有較好的檢測(cè)靈敏度，且對(duì)工件表面的粗糙度要求不高，適用于表面、近表面的裂紋檢測(cè)。表面波探頭入射角需在產(chǎn)生瑞利波的臨界角附近，通常比第二臨界角略大。由于超聲波傳感器表面波的能量集中于表面下2個(gè)波長之內(nèi)，檢查表面裂紋靈敏度極高，主要對(duì)表面或近表面缺陷進(jìn)行檢驗(yàn)。

雙晶探頭有兩塊壓電晶片，一塊用于發(fā)射超聲波，另一塊用于接收超聲波，根據(jù)入射角αL的不同，分為縱波雙晶直探頭和橫波雙晶斜探頭。靈敏度高、雜波少盲區(qū)小、工件中近場(chǎng)區(qū)長度小、檢測(cè)范圍可調(diào)，雙晶探頭主要用于檢測(cè)近表面缺陷。

一般超聲波探傷儀的使用步驟都是先根據(jù)工件的尺寸，形式，用標(biāo)準(zhǔn)試塊進(jìn)行超聲波探頭校準(zhǔn)、曲線制作，然后再進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)超聲波探傷；使用前校準(zhǔn)超聲波探傷儀探頭，通過調(diào)整探傷靈敏度，使DAC曲線完整顯示在屏幕上，然后開始探傷。探傷時(shí)一般是使探頭垂直焊口走向并沿焊口走向做鋸齒型掃查，探頭沿焊口走向(前后)移動(dòng)的距離：0～100mm。

探頭中的關(guān)鍵部件是晶片，晶片是一個(gè)具有壓電效應(yīng)的單晶或者多晶體薄片，它的作用是將電能和聲能互相轉(zhuǎn)換。超聲波探頭的工作頻率是由壓電陶瓷的諧振頻率，也就是探頭發(fā)射的超聲波的頻率所決定的。超聲波探頭工作在此頻率下輸出的能量大，傳播距離也遠(yuǎn)。